居住環(huán)境 選購指南
半導體晶片內(nèi)部缺陷檢測系統(tǒng)
產(chǎn)品介紹 HS-phys-SimPLe半導體晶片內(nèi)部缺陷檢測系統(tǒng)是專門用于包括單晶硅、碳化硅、藍寶石等半導體晶片及晶環(huán)生產(chǎn)過程中以極高的分辨率探測晶片和晶環(huán)的內(nèi)部滑移線、內(nèi)部隱裂等內(nèi)部缺陷檢測的儀器 檢測原理是:HS-Phys-SimPLe系統(tǒng)是一種高分辨率光致發(fā)光(PL)掃描映射系統(tǒng),用于表征直徑高達400mm的半導體晶片。使用專門設計的高強度激光源來激發(fā)半導體材料中的少子載流子。 三種類型復合載體:SRH(S......
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