交流阻斷 選購指南

科研院所專用高溫阻斷測試系統(tǒng)

系統(tǒng)概述：       交流阻斷（或反偏）耐久性試驗是在一定溫度下，對半導體器件施加阻斷（或反偏）電壓，按照規(guī)定的時間，從而對器件進行質量檢驗和耐久性評估的一種主要試驗方法。       一般情況下，此項試驗是對器件在結溫（Tjm ℃）和規(guī)定的交流阻斷電壓或反向偏置電壓的兩應力組合下，進行規(guī)定時間的試驗，并根據(jù)抽樣理論和失效判定依據(jù)，確認是否通過， 同時獲取相關試驗數(shù)據(jù)。       該系統(tǒng)符合MIL-STD-750D METHOD-1038.3、......

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