其測(cè)試原理是 選購(gòu)指南
無(wú)接觸少子壽命掃描儀
產(chǎn)品介紹: HS-MWR-2S-3無(wú)接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強(qiáng)大的無(wú)接觸少子壽命掃描儀，能夠?qū)尉Ч璋簟⒍嗑Ч鑹K及硅片提供快速、無(wú)接觸、無(wú)損傷、高分辨率的多功能掃描測(cè)試，其通過(guò)微波光電衰退特性原理來(lái)測(cè)量非平衡載流子壽命的，并且單晶硅棒、多晶硅塊無(wú)須進(jìn)行特殊處理。少子壽命測(cè)試量程從0.1μs到30ms,電阻率要求范圍：0.1-1000Ω.cm,，是太陽(yáng)能電池硅片企業(yè)、多晶鑄錠企業(yè)、拉晶企業(yè)不可多得的測(cè)量?jī)x器。 產(chǎn)品特點(diǎn) ■ 無(wú)接觸和無(wú)損傷測(cè)量 ■ 自......
CS-200智能電池內(nèi)阻測(cè)試儀
電池內(nèi)阻測(cè)試儀是用于測(cè)量電池內(nèi)部阻抗及電壓，它是對(duì)被測(cè)對(duì)象施加1KHz交流信號(hào)，通過(guò)測(cè)量其交流壓降而獲得其內(nèi)阻（它不同于多用表測(cè)量電阻的原理，它所測(cè)量的值上毫歐級(jí)，而多用表測(cè)量的是歐姆級(jí)，且多用表只能測(cè)量無(wú)電源對(duì)象的阻值，而內(nèi)阻儀不僅可測(cè)無(wú)源對(duì)象的阻值，也可測(cè)有源對(duì)象的阻值），它通過(guò)測(cè)定內(nèi)阻來(lái)判斷電池的優(yōu)劣。不僅測(cè)試速度快且可靠性高。它的最大優(yōu)點(diǎn)是能夠設(shè)定測(cè)試參數(shù)的范圍，實(shí)測(cè)結(jié)果不在設(shè)置范圍之內(nèi)，微電腦系統(tǒng)可以自動(dòng)報(bào)警。深圳市宏大電子設(shè)備有限公司為杜絕人......
