四探針
所有分類下結(jié)果硅材料綜合測試儀
[中介]硅料綜合測試儀HS-PSRT
本儀器是運(yùn)用四探針測量原理的多功能綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導(dǎo)體及太陽能行業(yè)的篩選。
硅料綜合測試儀 - 產(chǎn)品特點(diǎn)
■ 同時(shí)檢
四探針電阻率方阻測試儀
[中介]本儀器用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器.本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的國際及國家標(biāo)準(zhǔn)測試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計(jì)。 它主要由電器測量部份（主機(jī)）及
北廣精儀四探針電阻率測試儀BEST-300C
適用范圍四端測試法是目前較先進(jìn)之測試方法，主要針對高精度要求之產(chǎn)品測試；本儀器廣泛用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。
本儀器配置各類測量
[北京 儀器儀表] 北京/海淀/上地街道 北京市海淀區(qū)上地十街1號院2號樓21層2105
BEST-300C高溫四探針電阻率測試儀
采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對數(shù)據(jù)的處理和測量控制，解決半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)率對溫度變化測量要求，軟件實(shí)時(shí)繪制出溫度與電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜，及過程數(shù)據(jù)值的報(bào)表分析.
[北京 儀器儀表] 北京/海淀/上地街道 北京市海淀區(qū)上地十街1號院2號樓21層2105
硅材料綜合測試儀
[中介]硅料綜合測試儀HS-PSRT
本儀器是運(yùn)用四探針測量原理的多功能綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導(dǎo)體及太陽能行業(yè)的篩選。
硅料綜合測試儀 - 產(chǎn)品特點(diǎn)
■ 同時(shí)檢
四探針電阻率方阻測試儀
[中介]本儀器用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器.本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的國際及國家標(biāo)準(zhǔn)測試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計(jì)。 它主要由電器測量部份（主機(jī)）及
北廣精儀四探針電阻率測試儀BEST-300C
適用范圍四端測試法是目前較先進(jìn)之測試方法，主要針對高精度要求之產(chǎn)品測試；本儀器廣泛用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。
本儀器配置各類測量
[北京 儀器儀表] 北京/海淀/上地街道 北京市海淀區(qū)上地十街1號院2號樓21層2105
BEST-300C高溫四探針電阻率測試儀
采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對數(shù)據(jù)的處理和測量控制，解決半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)率對溫度變化測量要求，軟件實(shí)時(shí)繪制出溫度與電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜，及過程數(shù)據(jù)值的報(bào)表分析.
[北京 儀器儀表] 北京/海淀/上地街道 北京市海淀區(qū)上地十街1號院2號樓21層2105
