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STIL厚度測量傳感器CLIR-MGIR 

岱珂機電設(shè)備  黃生   186-7670-6083

STIL光譜共焦位移傳感器OP-ON-CCS

STIL光譜共焦位移傳感器CL-MG-ON-CCS

STIL光譜共焦位移傳感器END-ON-CCS

STIL光譜共焦位移傳感器CL-MG-ON-DUO

STIL光譜共焦位移傳感器OP-ON-DUO

STIL光譜共焦位移傳感器ENDO-ON-DUO

STIL光譜共焦位移傳感器CLIR-MGIR

STIL白光干涉測量傳感器OPILB

STIL光譜共焦位移傳感器是由法國STIL公司生產(chǎn)的，光譜共焦位移傳感器是基于光譜共焦原理制成的一款高精度位移傳感器，最小分辨率可達到2nm。采樣率達100Hz-30KHz。常用于測透明物體的厚度，如測薄膜、玻璃、透明膠、透明液體。且可測多層厚度用于表面粗糙度分析、表面輪廓分析、劃痕測量、孔內(nèi)徑測量應(yīng)用非常廣泛，且精度高，不受表面材料的影響。

STIL的光學傳感器在三維非接觸式測量中有著最前端的技術(shù)。我們的傳感器基于穿新的光學原理，幾乎能夠測量任何類型的材料，具有特殊的精確度。STIL傳感器可應(yīng)用在幾乎所有的工業(yè)領(lǐng)域。計量或研究實驗室內(nèi)，將它作為高精密儀器，或者用作生產(chǎn)線的質(zhì)量控制工具。工業(yè)環(huán)境使用時，由于STIL的簡單的接口，能夠與測量和檢測設(shè)備集成。

1.粗糙度測量：

STIL傳感器可測量最小幾個納米的粗糙度。獲取粗糙度文件速度比普通的探針式快很多，而且不會對表面造成劃痕的風險。

2.輪廓&微觀形貌：

STIL的3D掃描的接口，能夠滿足所有復雜對象的2D和3D測量。精度可達亞微米級。

3.厚度測量：

非常先進的光譜共焦成像原理，通過使用一個單一的傳感器就能測量透明材料的厚度，而且具有極高的精度。可以從樣品的一面直接測量。

4.水平面控制：

由于其非接觸技術(shù)，我們的傳感器可以檢測和測量液體的水平面。

5.振動：

由于非常高的測量頻率和納米分辨率，我么的傳感器能夠測量振動對象。他們的非接觸式設(shè)計避免了在測試時的干擾，并能測量和分析難以訪問的區(qū)域。

6.生產(chǎn)線檢測：

STIL SA的光學傳感器能夠用應(yīng)用于生產(chǎn)線系統(tǒng)控制，是由于其非常高的測量速率和先進的接口與制造能力。