BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀，熱電材料塞貝克系數測試儀 

BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀

關鍵詞：熱電材料，Seebeck系數，電導率， 電阻率，V-1裝置

 

產品介紹：

  

 BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀是我國熱電材料的領軍設備，是國家材料計劃中最前沿裝備，其測試性能遠超越國內外熱電材料測試儀，不僅可以用于塊體材料同時也可以用于薄材料的測試，是目前國內高等院校和材料研究所的重要設備。

對于熱電材料的研究，熱電性能測試是不可或缺的試驗數據。BKTEM-Dx(x=1,2,3)系列可以精確地測定半導體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系數及電導率。主要原理和特點如下: 

該裝置由高精度，高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構成。通過PID程序控溫，采用四點法的方式精確測定半導體材料及熱電材料的Seebeck系數及電導率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。

一、適用范圍：

1、精確地測定半導體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數及電導率、電阻率。

3、塊體和薄膜材料測均可以測試。

4、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。

5、擁有自身專利分析軟件，獨立分析，過程自動控制，界面友好。

6、國內高等院校材料系研究或是熱電材料生產單位。

7、汽車和燃油、能源利用效率、替代能源領域、熱電制冷.
8、很多其他工業和研究領域-每年都會誕生新的應用領域。

二、技術特點：

·解決高溫下溫控精度不準的問題，靜態法測量更加直觀的了解產品熱電材料的真正表征物理屬性。

· 溫度檢測可采用J、K型熱電偶，降低測試成本。

·試樣采用獨特的焊偶機構，保證接觸電阻最小以及測量結果的高重現性。

· 每次可測試1-3個樣品.

· 采用高級數據采集技術，避免電路板數據采集技術帶來的干擾誤差，可控溫場下同步測量賽貝克系數和電阻率。 

三：主要技術：

測量溫度 室溫-600℃
同時測試樣品數量 1個
測量功能 賽貝克系數和電阻率，薄膜材料的Seebeck系數及電導率
控溫精度 0.5K
測量原理 塞貝克系數：靜態直流電；電阻系數：四端法
測量精度 塞貝克系數：＜±7％；電阻系數：＜±10％
樣品尺寸 塊體方條形：2-3×2-3 mm×10-23mm長，薄膜材料：≥50 nm
熱電偶導距 ≥6 mm 
電   流 0 to 160 mA
氣   氛 高純度氬氣
加熱電極相數/電壓 單相，220V，

 

 

 

 

 

 

 

 

圖1 單一樣品測試系統原理示意圖