TEM透射電子顯微鏡檢測服務 

【儀器簡介】

透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,簡稱TEM),可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小于0.2nm的細微結構，這些結構稱為亞顯微結構或超微結構。要想看清這些結構，就必須選擇波長更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。1932年Ruska發明了以電子束為光源的透射電子顯微鏡，電子束的波長要比可見光和紫外光短得多，并且電子束的波長與發射電子束的電壓平方根成反比，也就是說電壓越高波長越短。目前TEM的分辨力可達0.2nm。

【功能/應用范圍】

納米材料，高分子材料，半導體材料，介觀材料，微孔材料等的形貌觀察、結構分析和微區在線元素分析。

【主要附件】

能量散射X射線分析系統（EDS），Oxford，INCA CCD相機，1K*1K，Gatan794 TV相機，Gatan 雙傾加熱臺（Heating Specimen Holder），Gatan，最高加熱溫度1000攝氏度 Piezo漂移補償系統 JEE400蒸鍍儀

主要技術指標：點分辨率0.23nm，晶格分辨率0.14nm，放大倍率200-1500000。