玻璃/晶片缺陷檢查成像技術(shù) PTC-ED脈理儀（紋理檢測儀）
概述：玻璃/晶片缺陷檢查成像技術(shù) PTC-ED脈理儀（紋理檢測儀）
該系統(tǒng)結(jié)合了獨特的光學(xué)成像和圖像處理技術(shù)。
我們可以捕獲人眼難以識別的缺陷圖像
本信息已過期，發(fā)布者可在"已發(fā)商機"里點擊"重發(fā)"。
玻璃/晶片缺陷檢查成像技術(shù) PTC-ED脈理儀（紋理檢測儀）
該系統(tǒng)結(jié)合了獨特的光學(xué)成像和圖像處理技術(shù)。
我們可以捕獲人眼難以識別的缺陷圖像
反射+透射檢查
寬視野范圍：最大 136 mm
放大功能 : 從宏觀到微觀的檢驗
表面/ 內(nèi)部缺陷可視化檢查
聚焦范圍廣
通過ED處理我們可以得到更清晰的圖像！
應(yīng)用領(lǐng)域：
晶圓，薄膜，玻璃，石英，藍(lán)寶石等
缺陷檢查 :
表面缺陷，例如劃痕，凹陷， 水印, 拋光不勻
裂紋檢查 , 薄膜不均勻
內(nèi)部缺陷，例如脈理檢查等
|
硬件 |
主體單元 |
高分辨率 微距鏡頭, 數(shù)碼CMOS相機 |
|
特殊光源, 精微傾斜臺 |
||
|
PC 單元 |
Windows10 , 顯示器，鍵盤，鼠標(biāo) |
|
|
檢測方法 |
反射用于表面檢查 / 透射用于內(nèi)部檢查 |
|
|
相機 |
分辨率 |
CMOS 2/3英寸, 2448 x 2048, 5M 像素 |
|
|
幀數(shù)率 |
35幀/s ( 最大)， 圖像 (BMP, JPG) 視頻(MPG) |
|
視野范圍（光學(xué)） |
焦距70 mm～300 mm |
約 136 mm x 115 mm～34 mm x 28 mm |
|
光源 |
白色 LED ( 標(biāo)準(zhǔn), 3W） |
壽命約25000 h ( 取決于使用情況) 0-8步可調(diào) |
|
圖像處理 |
獨特的圖像處理軟件，采用多個圖像數(shù)據(jù) |
|
|
自動ED處理 |
5相步進(jìn)電機 |
Focus unit is controlled by PC |
|
尺寸 / 重量 |
300 (W) x 470 (D) x990 (H) mm / 約 40 kg |
|
如需更新軟件或硬件，請聯(lián)系我們。
- ptc17118發(fā)布的信息
- 碳化硅微管瑕疵檢測偏光儀PSV-590
- 單色光（晶圓、晶片、晶體）偏光應(yīng)力儀PSV-590 適用范圍： l適合于檢測透明玻璃或燈等有復(fù)雜構(gòu)造的產(chǎn)品。 l檢測高密度的塑料產(chǎn)品，如隱形眼鏡等。 l檢測光學(xué)...
- 華東地區(qū)偏光片吸收軸測量儀OI-OAM
- 偏光片吸收軸測量儀是一款專門測量偏光片吸收軸角度的儀器。測試時采用手動放置偏光片的方式，可對偏光片吸收軸角度進(jìn)行單次測量和多次連續(xù)測量，并實時顯示測量結(jié)果。并可保存大量測試數(shù)據(jù)，具備數(shù)據(jù)查詢，光軸角度分布分析、數(shù)據(jù)報表導(dǎo)出等功能。...
- 表面應(yīng)力儀LED光源
- 應(yīng)力儀光源： 名稱：應(yīng)力儀光源 型號：ASM-595 中央波長Central wave length：595+/-10nm 電源Power source：+5VDC 大于1A ...
- 磁鐵外觀缺陷檢測設(shè)備
- 本設(shè)備是一種在線檢測缺陷的設(shè)備，它能夠自動完成鏡頭金屬環(huán)缺陷缺陷檢測、尺寸測量、自動上料、自動下料的多項功能DE-DMM是我司針對磁性材料外觀及尺寸缺陷研發(fā)的一款高精度、自動化檢測設(shè)備。該設(shè)備可以...
- 全自動鋼化玻璃應(yīng)力儀ASM-100-3
- ...
- COC高分子材料全自動應(yīng)力儀NMV-145
- 全自動偏光應(yīng)力儀NMV-145是全自動檢測具有應(yīng)力與雙折射的透明物體內(nèi)部的光程差和慢軸方向的二次元定量測量裝置。 光線經(jīng)過偏振片變成園偏振光，放置有應(yīng)力的樣品，雙折射的慢軸快軸產(chǎn)生光程差，出射光變成...
