普納赫液體光學顆粒度儀KS-42A/KS-42AF 

 寬廣的測試范圍，可測試 0.1~0.5um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數(shù)據(jù)。

 可偵測到最小粒徑 0.1um 的粒子 

 可自行設定的粒徑范圍 0.1~0.5um，通過 KE-40B1 的控制器 可擴充至 10 個通道

 出廠設定為 5 通道：0.1 / 0.15 / 0.2 / 0.3 / 0.5um 

 綜合泄漏傳感器與報警輸出 

 KS-42AF 藍寶石材質的毛細管耐腐蝕性更強 

偵 測 方 式：光散射法 

光源：鐳射二極管（波長 830nm,輸出功率:200Mw） 

鐳 射 等 級：Class1,IEC 60825-1 光 檢 知 器：PIN type photodiode 

與樣品接觸部件材質： KS-42A: 石英、PFA、PTFE 

KS-42AF:藍寶石、PFA、PTFE 可測試樣品種類 任何不會腐蝕接觸樣品部件材質的液體

 校正：PSL 標準液（折射率為 1.6） 

粒 徑 范 圍5 通道（出廠設定）：0.1 / 0.15 / 0.2 / 0.3 / 0.5um 可 測 試 范 圍 0.1~0.5um （可擴至 1um，原廠定制）（可自行擴充至 10 個通道）

偵 測 效 率：KS-42A:55%~85%,KS-42AF: 45%~75% 

取樣量：10mL/min

可測試粒子濃度 ：1200 顆/mL 

樣品溫度范圍：15℃~35℃ （毛細管內無凝固、無結露） 

樣品測試壓力范圍：不超過 300kPa (表壓) 

樣 品 進 出：2（直徑）*4（直徑）管路 

氣體清洗裝置：Rc1/8 ( 1/8PT female screw)

 數(shù)據(jù)傳輸及操作：界面?zhèn)鬏斨?KE-40B1，直接觸摸屏操作無需外接電腦

 數(shù)據(jù)輸出方式：內置打印機/記憶卡存儲 

泄露告警轉換：正常測試時告警端口短路，打開檢測內部泄露

 電源：DC 12V （由 KE-40B1 提供） 

測試環(huán)境條件：15~35℃，濕度不超過 85%（無結露） 

尺寸 & 重量： 125(H)*240(W)*151(D)mm (不含突出部分)， 約 3.2kg 

工 廠 標 配：管路配件組合 *1，訊號線(1m)*1，電源線*1 

選配：訊號線 B (5m) KS-42-123