普納赫液體光學(xué)顆粒度儀KS-42A/KS-42AF 

 寬廣的測(cè)試范圍，可測(cè)試 0.1~0.5um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。

 可偵測(cè)到最小粒徑 0.1um 的粒子 

 可自行設(shè)定的粒徑范圍 0.1~0.5um，通過(guò) KE-40B1 的控制器 可擴(kuò)充至 10 個(gè)通道

 出廠設(shè)定為 5 通道：0.1 / 0.15 / 0.2 / 0.3 / 0.5um 

 綜合泄漏傳感器與報(bào)警輸出 

 KS-42AF 藍(lán)寶石材質(zhì)的毛細(xì)管耐腐蝕性更強(qiáng) 

偵 測(cè) 方 式：光散射法 

光源：鐳射二極管（波長(zhǎng) 830nm,輸出功率:200Mw） 

鐳 射 等 級(jí)：Class1,IEC 60825-1 光 檢 知 器：PIN type photodiode 

與樣品接觸部件材質(zhì)： KS-42A: 石英、PFA、PTFE 

KS-42AF:藍(lán)寶石、PFA、PTFE 可測(cè)試樣品種類 任何不會(huì)腐蝕接觸樣品部件材質(zhì)的液體

 校正：PSL 標(biāo)準(zhǔn)液（折射率為 1.6） 

粒 徑 范 圍5 通道（出廠設(shè)定）：0.1 / 0.15 / 0.2 / 0.3 / 0.5um 可 測(cè) 試 范 圍 0.1~0.5um （可擴(kuò)至 1um，原廠定制）（可自行擴(kuò)充至 10 個(gè)通道）

偵 測(cè) 效 率：KS-42A:55%~85%,KS-42AF: 45%~75% 

取樣量：10mL/min

可測(cè)試粒子濃度 ：1200 顆/mL 

樣品溫度范圍：15℃~35℃ （毛細(xì)管內(nèi)無(wú)凝固、無(wú)結(jié)露） 

樣品測(cè)試壓力范圍：不超過(guò) 300kPa (表壓) 

樣 品 進(jìn) 出：2（直徑）*4（直徑）管路 

氣體清洗裝置：Rc1/8 ( 1/8PT female screw)

 數(shù)據(jù)傳輸及操作：界面?zhèn)鬏斨?KE-40B1，直接觸摸屏操作無(wú)需外接電腦

 數(shù)據(jù)輸出方式：內(nèi)置打印機(jī)/記憶卡存儲(chǔ) 

泄露告警轉(zhuǎn)換：正常測(cè)試時(shí)告警端口短路，打開(kāi)檢測(cè)內(nèi)部泄露

 電源：DC 12V （由 KE-40B1 提供） 

測(cè)試環(huán)境條件：15~35℃，濕度不超過(guò) 85%（無(wú)結(jié)露） 

尺寸 & 重量： 125(H)*240(W)*151(D)mm (不含突出部分)， 約 3.2kg 

工 廠 標(biāo) 配：管路配件組合 *1，訊號(hào)線(1m)*1，電源線*1 

選配：訊號(hào)線 B (5m) KS-42-123