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敏度。因此對(duì)高強(qiáng)度鋼以及對(duì)裂紋活絡(luò)的鐵磁性材料，或是長(zhǎng)時(shí)間工作在腐蝕介質(zhì)環(huán)境下，有或許發(fā)作應(yīng)力腐蝕裂紋的承壓設(shè)備的內(nèi)壁檢查，一般懇求應(yīng)進(jìn)行熒光磁粉檢查。 十八、一向線上兩條或兩條以上表面相鄰缺陷的評(píng)級(jí)     在實(shí)習(xí)表面檢查進(jìn)程中，許多數(shù)據(jù)標(biāo)明，間隔小于或等于2mm的兩條或兩條以上缺陷在同一向線時(shí)，極有或許在淺表層是相聯(lián)的。這是由于缺陷有時(shí)或許一有些顯露表面，而另一部分別表面尚有一段間隔，因此表面閃現(xiàn)不出來(lái)。對(duì)這種閃現(xiàn)若不考慮其間隔，則有或許作為合格來(lái)處理，致使危險(xiǎn)缺陷漏檢。因此在進(jìn)行此類缺陷閃現(xiàn)評(píng)判時(shí)，應(yīng)仔細(xì)考慮缺陷或許掩蓋的真實(shí)情況。國(guó)外各類標(biāo)準(zhǔn)均有對(duì)缺陷間隔作出規(guī)矩的。如ASME標(biāo)準(zhǔn)規(guī)矩間隔不大于1/16in(約1.6mm)，JIS標(biāo)準(zhǔn)規(guī)矩間隔不大于2mm。所以JB/T 4730標(biāo)準(zhǔn)規(guī)矩，兩條或兩條以上缺陷吞并計(jì)算的間隔標(biāo)準(zhǔn)為不大于2mm。     由于兩條或兩條以上缺陷閃現(xiàn)徹底在一向線的概率很小，實(shí)習(xí)上即使是一個(gè)大缺陷的多處獨(dú)立閃現(xiàn)也不或許徹底處于一向線上，所以在實(shí)習(xí)應(yīng)用時(shí)，同一向線的概念就有一個(gè)寬度疑問(wèn)。一般說(shuō)在一向線兩則各2mm計(jì)劃內(nèi)且兩缺陷之間夾角不跨過(guò)30°時(shí)，均可以為在同一向線上。許多工程實(shí)習(xí)數(shù)據(jù)亦標(biāo)明，若兩條缺陷或兩條以上缺陷落在一向線兩則各2mm的計(jì)劃內(nèi)且相距不跨過(guò)2mm，極有或許是一條缺陷的多處獨(dú)立閃現(xiàn)。即使是獨(dú)立缺陷，由于彼此靠的很近，在遭到應(yīng)力作用時(shí)，其彼此作用和影響也很大，有或許打開變成一體。因此，對(duì)這么的表面缺陷有必要從嚴(yán)處理。 十九、長(zhǎng)度小于0.5mm的表面缺陷磁痕閃現(xiàn)的處理     規(guī)矩不計(jì)標(biāo)準(zhǔn)缺陷長(zhǎng)度實(shí)習(xí)上是規(guī)矩了承壓設(shè)備磁粉檢查的最小缺陷分辨率。所謂分辨率，它包含兩層含義：   ① 能檢查出的最小缺陷；   ② 對(duì)檢查出的最小缺陷能完整地描繪。換句話說(shuō)，若能完整地描繪出所檢查到的最小缺陷，那么這個(gè)最小缺陷的標(biāo)準(zhǔn)即是此刻的分辨率。     G.L.Marsh以為磁粉檢查可以發(fā)現(xiàn)0.01mm的模仿缺陷。但由于受查詢者視力和磁粉顆粒度的影響，一般磁粉檢查所能檢出的缺陷極限標(biāo)準(zhǔn)為0.25mm。一般在實(shí)驗(yàn)室中做出的作用，在出產(chǎn)檢查中將是其2倍，而在修補(bǔ)檢查中則是其3倍。有文章介紹，E.Mundry在對(duì)許多的文獻(xiàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析后，得出磁粉檢查的極限標(biāo)準(zhǔn)見表4-3。從上述論說(shuō)中可看出：實(shí)習(xí)磁粉檢查中，人眼一般所能分辨出的缺陷磁痕長(zhǎng)度在0.5mm分配。    表4-3    磁粉檢查的缺陷極限標(biāo)準(zhǔn) 裂紋深度，μm 1O 25 40 裂紋寬度，μm 0.1～2 1 5 裂紋長(zhǎng)度，mm L≥2，檢查概率為100% 2>L≥1，檢查概率為50%分配 L≈O.5，受查詢者的影響很大      其他，由于在實(shí)習(xí)檢查進(jìn)程中，對(duì)缺陷磁痕計(jì)量所用東西為鋼直尺，不或許選用比方顯微鏡等東西，而鋼直尺的最小刻度單位為0.5mm，小于0.5mm的標(biāo)準(zhǔn)則只能目視估量。因此，能定量描繪出的缺陷磁痕標(biāo)準(zhǔn)為0.5mm。一同由于缺陷磁痕較之實(shí)習(xí)缺陷標(biāo)準(zhǔn)上有一個(gè)拓展。即0.5mm的磁痕閃現(xiàn)所代表的缺陷長(zhǎng)度要小于0.5mm。   綜上所述，JB/T 4730標(biāo)準(zhǔn)規(guī)矩長(zhǎng)度小于0.5mm的缺陷磁痕不計(jì)標(biāo)準(zhǔn)。 二十、橫向缺陷     所謂橫向缺陷是指缺陷長(zhǎng)軸與主應(yīng)力方向或軸線(母線)方向相垂直或近似垂直(一般指夾角大

敏度。因此對(duì)高強(qiáng)度鋼以及對(duì)裂紋活絡(luò)的鐵磁性材料，或是長(zhǎng)時(shí)間工作在腐蝕介質(zhì)環(huán)境下，有或許發(fā)作應(yīng)力腐蝕裂紋的承壓設(shè)備的內(nèi)壁檢查，一般懇求應(yīng)進(jìn)行熒光磁粉檢查。 十八、一向線上兩條或兩條以上表面相鄰缺陷的評(píng)級(jí)     在實(shí)習(xí)表面檢查進(jìn)程中，許多數(shù)據(jù)標(biāo)明，間隔小于或等于2mm的兩條或兩條以上缺陷在同一向線時(shí)，極有或許在淺表層是相聯(lián)的。這是由于缺陷有時(shí)或許一有些顯露表面，而另一部分別表面尚有一段間隔，因此表面閃現(xiàn)不出來(lái)。對(duì)這種閃現(xiàn)若不考慮其間隔，則有或許作為合格來(lái)處理，致使危險(xiǎn)缺陷漏檢。因此在進(jìn)行此類缺陷閃現(xiàn)評(píng)判時(shí)，應(yīng)仔細(xì)考慮缺陷或許掩蓋的真實(shí)情況。國(guó)外各類標(biāo)準(zhǔn)均有對(duì)缺陷間隔作出規(guī)矩的。如ASME標(biāo)準(zhǔn)規(guī)矩間隔不大于1/16in(約1.6mm)，JIS標(biāo)準(zhǔn)規(guī)矩間隔不大于2mm。所以JB/T 4730標(biāo)準(zhǔn)規(guī)矩，兩條或兩條以上缺陷兼并計(jì)算的間隔標(biāo)準(zhǔn)為不大于2mm。     由于兩條或兩條以上缺陷閃現(xiàn)徹底在一向線的概率很小，實(shí)習(xí)上即使是一個(gè)大缺陷的多處獨(dú)立閃現(xiàn)也不或許徹底處于一向線上，所以在實(shí)習(xí)應(yīng)用時(shí)，同一向線的概念就有一個(gè)寬度疑問(wèn)。一般說(shuō)在一向線兩則各2mm計(jì)劃內(nèi)且兩缺陷之間夾角不跨過(guò)30°時(shí)，均可以為在同一向線上。許多工程實(shí)習(xí)數(shù)據(jù)亦標(biāo)明，若兩條缺陷或兩條以上缺陷落在一向線兩則各2mm的計(jì)劃內(nèi)且相距不跨過(guò)2mm，極有或許是一條缺陷的多處獨(dú)立閃現(xiàn)。即使是獨(dú)立缺陷，由于彼此靠的很近，在遭到應(yīng)力作用時(shí)，其彼此作用和影響也很大，有或許展開變成一體。因此，對(duì)這么的表面缺陷有必要從嚴(yán)處理。 十九、長(zhǎng)度小于0.5mm的表面缺陷磁痕閃現(xiàn)的處理     規(guī)矩不計(jì)標(biāo)準(zhǔn)缺陷長(zhǎng)度實(shí)習(xí)上是規(guī)矩了承壓設(shè)備磁粉檢查的最小缺陷分辨率。所謂分辨率，它包含兩層意義：   ① 能檢查出的最小缺陷；   ② 對(duì)檢查出的最小缺陷能完整地描繪。換句話說(shuō)，若能完整地描繪出所檢查到的最小缺陷，那么這個(gè)最小缺陷的標(biāo)準(zhǔn)即是此刻的分辨率。     G.L.Marsh以為磁粉檢查可以發(fā)現(xiàn)0.01mm的模仿缺陷。但由于受查詢者視力和磁粉顆粒度的影響，一般磁粉檢查所能檢出的缺陷極限標(biāo)準(zhǔn)為0.25mm。一般在實(shí)驗(yàn)室中做出的作用，在出產(chǎn)檢查中將是其2倍，而在修補(bǔ)檢查中則是其3倍。有文章介紹，E.Mundry在對(duì)許多的文獻(xiàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析后，得出磁粉檢查的極限標(biāo)準(zhǔn)見表4-3。從上述論說(shuō)中可看出：實(shí)習(xí)磁粉檢查中，人眼一般所能分辨出的缺陷磁痕長(zhǎng)度在0.5mm分配。    表4-3    磁粉檢查的缺陷極限標(biāo)準(zhǔn) 裂紋深度，μm 1O 25 40 裂紋寬度，μm 0.1～2 1 5 裂紋長(zhǎng)度，mm L≥2，檢查概率為100% 2>L≥1，檢查概率為50%分配 L≈O.5，受查詢者的影響很大      其他，由于在實(shí)習(xí)檢查進(jìn)程中，對(duì)缺陷磁痕計(jì)量所用東西為鋼直尺，不或許選用比方顯微鏡等東西，而鋼直尺的最小刻度單位為0.5mm，小于0.5mm的標(biāo)準(zhǔn)則只能目視估計(jì)。因此，能定量描繪出的缺陷磁痕標(biāo)準(zhǔn)為0.5mm。一同由于缺陷磁痕較之實(shí)習(xí)缺陷標(biāo)準(zhǔn)上有一個(gè)拓展。即0.5mm的磁痕閃現(xiàn)所代表的缺陷長(zhǎng)度要小于0.5mm。   綜上所述，JB/T 4730標(biāo)準(zhǔn)規(guī)矩長(zhǎng)度小于0.5mm的缺陷磁痕不計(jì)標(biāo)準(zhǔn)。 二十、橫向缺陷     所謂橫向缺陷是指缺陷長(zhǎng)軸與主應(yīng)力方向或軸線(母線)方向相垂直或近似垂直(一般指夾角大

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