如何測試靜電 靜電測試專業機構 靜電測試儀器 深圳靜電測試第 

靜電放電(ESD)的模型以及工業測試標準
    因ESD產生的原因及其放電的方式不同，ESD目前大體上被分為下列四類:
(1) 人體放電模型 (Human-Body Model, HBM)
(2) 機器放電模型 (Machine Model, MM)
(3) 元件充電模型 (Charged-Device Model, CDM)
(4) 電場感應模型 (Field-Induced Model, FIM)
    下面是四類靜電放電現象詳加說明，并比較各類放電現象的電流大小
    1 人體放電模型 (Human-Body Model, HBM) :
　　人體放電模型(HBM)的ESD是指因人體在地上走動摩擦或其他因素在人體上已累積了靜電，當此人去碰觸到IC

時，人體上的靜電便會經由IC的腳(pin)而進入IC內，再經由IC放電到地去，如圖2.1-1(a)所示。此放電的過程會在短到幾百毫微秒(ns)的時間內產生數安培的瞬間放電電流，此電流會把IC內的元件給燒毀。不同HBM靜電電壓相對產生的瞬間放電電流與時間的關系。對一般商用IC的2-KV ESD放電電壓而言，其瞬間放電電流的尖峰值大約是1.33 安培。

2 機器放電模型 (Machine Model, MM)
　　機器放電模型的ESD是指機器(例如機械手臂)本身累積了靜電，當此機器去碰觸到IC時，該靜電便經由IC的pin放電。

3 元件充電模型 (Charged-Device Model, CDM)
　　此放電模式是指IC先因摩擦或其他因素而在IC內部累積了靜電，但在靜電累積的過程中IC并未被損傷。此帶有靜電的IC在處理過程中，當其pin去碰觸到接地面時，IC內部的靜電便會經由pin自IC內部流出來，而造成了放電的現象。
　　此種模型的放電時間更短，僅約幾毫微秒之內，而且放電現象更難以真實的被模擬。因為IC內部累積的靜電會因IC元件本身對地的等效電容而變，IC擺放的角度與位置以及IC所用的包裝型式都會造成不同的等效電容。由于具有多項變化因素難定，因此，有關此模型放電的工業測試標準仍在協議中，但已有此類測試機臺在銷售中。

4 電場感應下面(Field-Induced Model, FIM)
　　此FIM模型的靜電放電發生是因電場感應而起的。當IC因輸送帶或其他因素而經過一電場時，其相對極性的電荷可能會自一些IC腳而排放掉，等IC通過電場之后，IC本身便累積了靜電荷，此靜電荷會以類似CDM的模式放電出來。有關FIM的放電模型早在雙載子(bipolar)電晶體時代就已被發現，現今已有工業測試標準。在國際電子工業標準(EIA/JEDEC STANDARD) 中，亦已對此電場感應模型訂定測試規范 (JESD22-C101)，詳細情形請參閱該工業標準。

[本信息來自于今日推薦網]