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如何測試靜電 靜電測試專業(yè)機構(gòu) 靜電測試儀器 深圳靜電測試第 

時，人體上的靜電便會經(jīng)由IC的腳(pin)而進入IC內(nèi)，再經(jīng)由IC放電到地去，如圖2.1-1(a)所示。此放電的過程會在短到幾百毫微秒(ns)的時間內(nèi)產(chǎn)生數(shù)安培的瞬間放電電流，此電流會把IC內(nèi)的元件給燒毀。不同HBM靜電電壓相對產(chǎn)生的瞬間放電電流與時間的關系。對一般商用IC的2-KV ESD放電電壓而言，其瞬間放電電流的尖峰值大約是1.33 安培。

2 機器放電模型 (Machine Model, MM)
　　機器放電模型的ESD是指機器(例如機械手臂)本身累積了靜電，當此機器去碰觸到IC時，該靜電便經(jīng)由IC的pin放電。

3 元件充電模型 (Charged-Device Model, CDM)
　　此放電模式是指IC先因摩擦或其他因素而在IC內(nèi)部累積了靜電，但在靜電累積的過程中IC并未被損傷。此帶有靜電的IC在處理過程中，當其pin去碰觸到接地面時，IC內(nèi)部的靜電便會經(jīng)由pin自IC內(nèi)部流出來，而造成了放電的現(xiàn)象。
　　此種模型的放電時間更短，僅約幾毫微秒之內(nèi)，而且放電現(xiàn)象更難以真實的被模擬。因為IC內(nèi)部累積的靜電會因IC元件本身對地的等效電容而變，IC擺放的角度與位置以及IC所用的包裝型式都會造成不同的等效電容。由于具有多項變化因素難定，因此，有關此模型放電的工業(yè)測試標準仍在協(xié)議中，但已有此類測試機臺在銷售中。

4 電場感應下面(Field-Induced Model, FIM)
　　此FIM模型的靜電放電發(fā)生是因電場感應而起的。當IC因輸送帶或其他因素而經(jīng)過一電場時，其相對極性的電荷可能會自一些IC腳而排放掉，等IC通過電場之后，IC本身便累積了靜電荷，此靜電荷會以類似CDM的模式放電出來。有關FIM的放電模型早在雙載子(bipolar)電晶體時代就已被發(fā)現(xiàn)，現(xiàn)今已有工業(yè)測試標準。在國際電子工業(yè)標準(EIA/JEDEC STANDARD) 中，亦已對此電場感應模型訂定測試規(guī)范 (JESD22-C101)，詳細情形請參閱該工業(yè)標準。